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Baswa, Sushmita; Martín, Antonio J López ; Ramirez-Angulo, Jaime; Carvajal, Ramon G.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2006
Volumen: 46
Número: 2
Páginas: 149 - 152
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus613-11-2024
wos513-11-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2006

Journal Impact Factor (JIF): 0.2980

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE158/206Q4T3D8
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURESCIE37/44Q4T3D9

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,310

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE51/57Q4T3D911,40
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC226/306Q3T3D826,31

Año:

2011

CiteScore:

1,300

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Surfaces, Coatings and Films44/91Q2T2D5
Signal Processing44/67Q3T2D7
Hardware and Architecture95/134Q3T3D8

SJR año:

2006

Factor de Impacto:

0,258

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Surfaces, Coatings and Films52/104Q2T2D5
Hardware and Architecture68/109Q3T2D7
Signal Processing32/49Q3T2D7
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# Autor Afiliación
1Baswa, SushmitaNew Mexico State University (United States)
2Martín, Antonio J López Universidad Pública de Navarra (Spain)
3Ramirez-Angulo, JaimeNew Mexico State University (United States)
4Carvajal, Ramon G.Universidad de Sevilla (Spain)