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Input offset compensation scheme with reduced sensitivity to charge injection and leakage

Ramirez-Angulo, J. ; Garimella, A.; Garimella, L. M.K.; López-Martín, A. J.; Carvajal, R. G.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2006
Volumen: 42
Número: 6
Páginas: 340 - 341
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus221-12-2024
wos221-12-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2006

Journal Impact Factor (JIF): 1.0630

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE69/206Q2T1D4

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,480

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC177/306Q3T2D642,32

Año:

2011

CiteScore:

2,500

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering162/589Q2T1D3

SJR año:

2006

Factor de Impacto:

0,830

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering102/527Q1T1D2
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# Autor Afiliación
1Ramirez-Angulo, J. New Mexico State University (United States)
2Garimella, A.New Mexico State University (United States)
3Garimella, L. M.K.New Mexico State University (United States)
4López-Martín, A. J.Universidad Pública de Navarra (Spain)
5Carvajal, R. G.Universidad de Sevilla (Spain)