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Non-destructive XRF analysis of selected Flemish panel paintings in the Fine Arts Museum of Seville

Kriznar, Anabelle ; Del Valme Muñoz, Maria; De La Paz, Fuensanta; Respaldiza, Miguel Ángel; Vega, Mercedes

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2014
Volumen: 37
Número: 2
Páginas: 136 - 151
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
dialnet002-10-2024
scopus629-10-2024
wos629-10-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2020

Journal Citation Indicator (JCI): 2,580

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
HUMANITIES, MULTIDISCIPLINARY24/392Q1T1D194,01

Año:

2014

CiteScore:

0,400

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Conservation15/48Q2T1D4
Media Technology32/63Q3T2D6
General Materials Science349/430Q4T3D9

SJR año:

2014

Factor de Impacto:

0,148

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Conservation24/64Q2T2D4
Media Technology38/82Q2T2D5
Materials Science (miscellaneous)387/509Q4T3D8
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# Autor Afiliación
1Kriznar, Anabelle Universidad de Sevilla (Spain)
2Del Valme Muñoz, MariaMuseo de Bellas Artes de Sevilla (Spain)
3De La Paz, FuensantaMuseo de Bellas Artes de Sevilla (Spain)
4Respaldiza, Miguel ÁngelUniversidad de Sevilla (Spain)
5Vega, MercedesMuseo de Bellas Artes de Sevilla (Spain)