Año: 2008
Journal Impact Factor (JIF): 2.7110
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | 29/229 | Q1 | T1 | D2 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 1,160
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 72/306 | Q1 | T1 | D3 | 76,63 |
Año:
2011
CiteScore:
4,700
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Radiation | 3/40 | Q1 | T1 | D1 |
Condensed Matter Physics | 41/383 | Q1 | T1 | D2 |
Electrical and Electronic Engineering | 59/589 | Q1 | T1 | D2 |
SJR año:
2008
Factor de Impacto:
1,570
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Condensed Matter Physics | 38/400 | Q1 | T1 | D1 |
Electrical and Electronic Engineering | 39/541 | Q1 | T1 | D1 |
Radiation | 3/38 | Q1 | T1 | D1 |
# | Autor | Afiliación |
---|---|---|
1 | Universidad de Sevilla (Spain) | |
2 | Mesa, Francisco | Universidad de Sevilla; IEEE (United States) |
3 | Jackson, David R. | IEEE; University of Houston (United States) |