Ver Publicación - Prisma - Unidad de Bibliometría

The danger of high-frequency spurious effects on wide microstrip line

Mesa, F ; Jackson, DR

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2002
Volumen: 50
Número: 12
Páginas: 2679 - 2689
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus2315-06-2024
wos2215-06-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2002

Journal Impact Factor (JIF): 1,511

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE33/203Q1T1D2

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 1,160

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC72/306Q1T1D376,63

Año:

2011

CiteScore:

4,700

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Radiation3/40Q1T1D1
Condensed Matter Physics41/383Q1T1D2
Electrical and Electronic Engineering59/589Q1T1D2

SJR año:

2002

Factor de Impacto:

2,145

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Condensed Matter Physics17/333Q1T1D1
Electrical and Electronic Engineering30/446Q1T1D1
Radiation1/31Q1T1D1
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# Autor Afiliación
1Mesa, F Universidad de Sevilla (Spain)
2Jackson, DRUniversity of Houston (United States)