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Spurious radiation from a practical source on a covered microstrip line

Langston, WL ; Williams, JT; Jackson, DR; Mesa, F

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2001
Volumen: 49
Número: 12
Páginas: 2216 - 2226
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1315-06-2024
wos915-06-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2001

Journal Impact Factor (JIF): 1,264

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE38/200Q1T1D2

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 1,160

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC72/306Q1T1D376,63

Año:

2011

CiteScore:

4,700

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Radiation3/40Q1T1D1
Condensed Matter Physics41/383Q1T1D2
Electrical and Electronic Engineering59/589Q1T1D2

SJR año:

2001

Factor de Impacto:

1,895

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Condensed Matter Physics22/322Q1T1D1
Electrical and Electronic Engineering30/432Q1T1D1
Radiation1/31Q1T1D1
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# Autor Afiliación
1Langston, WL IEEE; University of Houston (United States)
2Williams, JTIEEE; University of Houston (United States)
3Jackson, DRIEEE; University of Houston (United States)
4Mesa, FUniversidad de Sevilla; IEEE (United States)