Año: 2010
Journal Impact Factor (JIF): 1.690
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY | SCIE | 77/225 | Q2 | T2 | D4 |
PHYSICS, CONDENSED MATTER | SCIE | 27/68 | Q2 | T2 | D4 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 0,730
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY | 107/343 | Q2 | T1 | D4 | 68,95 |
PHYSICS, CONDENSED MATTER | 20/74 | Q2 | T1 | D3 | 73,65 |
Año:
2011
CiteScore:
3,300
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Condensed Matter Physics | 89/383 | Q1 | T1 | D3 |
Electronic, Optical and Magnetic Materials | 43/183 | Q1 | T1 | D3 |
SJR año:
2010
Factor de Impacto:
0,936
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electronic, Optical and Magnetic Materials | 43/187 | Q1 | T1 | D3 |
Condensed Matter Physics | 110/405 | Q2 | T1 | D3 |
# | Autor | Afiliación |
---|---|---|
1 | Universidad de Sevilla (Spain) | |
2 | Conde, A. | Universidad de Sevilla (Spain) |
3 | Provenzano, V. | National Institute of Standards and Technology (United States) |
4 | Shull, R. D. | National Institute of Standards and Technology (United States) |