Año: 2016
Journal Impact Factor (JIF): 2.1150
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
PHYSICS, APPLIED | SCIE | 57/148 | Q2 | T2 | D4 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | 106/262 | Q2 | T2 | D5 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 0,640
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 143/306 | Q2 | T2 | D5 | 53,43 |
PHYSICS, APPLIED | 62/165 | Q2 | T2 | D4 | 62,73 |
Año:
2016
CiteScore:
3,200
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electrical and Electronic Engineering | 179/654 | Q2 | T1 | D3 |
SJR año:
2016
Factor de Impacto:
0,553
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electrical and Electronic Engineering | 176/679 | Q2 | T1 | D3 |
# | Autor | Afiliación |
---|---|---|
1 | Institut PPRIME (France) | |
2 | Traore, Philippe | Institut PPRIME (France) |
3 | Louste, Christophe | Institut PPRIME (France) |
4 | Perez, Alberto T. | Universidad de Sevilla (Spain) |
5 | Vazquez, Pedro A. | Universidad de Sevilla (Spain) |