Año: 2005
Journal Impact Factor (JIF): 0.4130
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, MULTIDISCIPLINARY | SCIE | 32/65 | Q2 | T2 | D5 |
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | 39/52 | Q3 | T3 | D8 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 1,220
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, MULTIDISCIPLINARY | 27/168 | Q1 | T1 | D2 | 84,23 |
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | 8/69 | Q1 | T1 | D2 | 89,13 |
Año:
2011
CiteScore:
1,800
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Education | 169/787 | Q1 | T1 | D3 |
Applied Mathematics | 150/381 | Q2 | T2 | D4 |
Statistics and Probability | 63/159 | Q2 | T2 | D4 |
Condensed Matter Physics | 187/383 | Q2 | T2 | D5 |
SJR año:
2005
Factor de Impacto:
0,507
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Education | 134/520 | Q2 | T1 | D3 |
Electrical and Electronic Engineering | 157/504 | Q2 | T1 | D4 |
Instrumentation | 28/73 | Q2 | T2 | D4 |
Applied Mathematics | 157/282 | Q3 | T2 | D6 |
Condensed Matter Physics | 187/367 | Q3 | T2 | D6 |
Statistics and Probability | 87/125 | Q3 | T3 | D7 |
# | Autor | Afiliación |
---|---|---|
1 | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) | |
2 | Del Río, R. | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
3 | De La Rosa, J. M. | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
4 | Pérez-Verdú, B. | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
5 | Rodríguez-Vázquez, A. | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |