Año: 2000
Journal Impact Factor (JIF): 1.5440
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | 21/204 | Q1 | T1 | D2 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 1,490
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 48/306 | Q1 | T1 | D2 | 84,48 |
Año:
2011
CiteScore:
8,400
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electrical and Electronic Engineering | 13/589 | Q1 | T1 | D1 |
SJR año:
2000
Factor de Impacto:
1,290
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electrical and Electronic Engineering | 37/422 | Q1 | T1 | D1 |
# | Autor | Afiliación |
---|---|---|
1 | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) | |
2 | Perez-Verdu, B | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
3 | del Rio, R | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
4 | Rodriguez-Vazquez, A | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |