Año: 2000
Journal Impact Factor (JIF): 0.9310
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | 52/204 | Q2 | T1 | D3 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 0,480
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 177/306 | Q3 | T2 | D6 | 42,32 |
Año:
2011
CiteScore:
2,500
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electrical and Electronic Engineering | 162/589 | Q2 | T1 | D3 |
SJR año:
2000
Factor de Impacto:
1,141
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electrical and Electronic Engineering | 43/422 | Q1 | T1 | D2 |
# | Autor | Afiliación |
---|---|---|
1 | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) | |
2 | Medeiro, F | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
3 | Perez-Verdu, B | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
4 | Rodriguez-Vazquez, A | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |