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Quantitative elemental analysis of Della Robbia glazes with a portable XRF spectrometer and its comparison to PIXE methods

Gianoncelli, A. ; Castaing, J.; Bouquillon, A.; Polvorinos, A.; Walter, P.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2006
Volumen: 35
Número: 6
Páginas: 365 - 369
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1921-12-2024
wos1821-12-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2006

Journal Impact Factor (JIF): 1.3770

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
SPECTROSCOPYSCIE23/39Q3T2D6

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,700

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
SPECTROSCOPY24/46Q3T2D648,91

Año:

2011

CiteScore:

2,900

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Spectroscopy28/54Q3T2D6

SJR año:

2006

Factor de Impacto:

0,942

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Spectroscopy19/56Q2T2D4
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# Autor Afiliación
1Gianoncelli, A. Centre de Recherche et de Restauration des Musées de France CNRS UMR 171 (France)
2Castaing, J.Centre de Recherche et de Restauration des Musées de France CNRS UMR 171 (France)
3Bouquillon, A.Centre de Recherche et de Restauration des Musées de France CNRS UMR 171 (France)
4Polvorinos, A.Universidad de Sevilla (Spain)
5Walter, P.Centre de Recherche et de Restauration des Musées de France CNRS UMR 171 (France)