Año: 1997
Journal Impact Factor (JIF): 1.1550
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | 7/46 | Q1 | T1 | D2 |
PHYSICS, APPLIED | SCIE | 22/62 | Q2 | T2 | D4 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 0,490
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | 44/69 | Q3 | T2 | D7 | 36,96 |
PHYSICS, APPLIED | 88/165 | Q3 | T2 | D6 | 46,97 |
Año:
2011
CiteScore:
2,600
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Instrumentation | 24/90 | Q2 | T1 | D3 |
SJR año:
1999
Factor de Impacto:
0,979
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Medicine (miscellaneous) | 201/2845 | Q1 | T1 | D1 |
Instrumentation | 9/66 | Q1 | T1 | D2 |
# | Autor | Afiliación |
---|---|---|
1 | CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain) | |
2 | RamosMartos, J | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
3 | Conde, A | CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain) |