Año: 1997
Journal Impact Factor (JIF): 0.5220
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | 13/43 | Q2 | T1 | D3 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | 74/193 | Q2 | T2 | D4 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 0,310
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | 51/57 | Q4 | T3 | D9 | 11,40 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 226/306 | Q3 | T3 | D8 | 26,31 |
Año:
2011
CiteScore:
1,300
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Surfaces, Coatings and Films | 44/91 | Q2 | T2 | D5 |
Signal Processing | 44/67 | Q3 | T2 | D7 |
Hardware and Architecture | 95/134 | Q3 | T3 | D8 |
SJR año:
1999
Factor de Impacto:
0,461
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Hardware and Architecture | 18/89 | Q1 | T1 | D3 |
Signal Processing | 18/37 | Q2 | T2 | D5 |
Surfaces, Coatings and Films | 44/94 | Q2 | T2 | D5 |
# | Autor | Afiliación |
---|---|---|
1 | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) | |
2 | DOMINGUEZCASTRO, R | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
3 | MEDEIRO, F | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
4 | DELGADORESTITUTO, M | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |