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A CMOS Digital SiPM With Focal-Plane Light-Spot Statistics for DOI Computation

Vornicu, Ion ; Bandi, Franco N.; Carmona-Galan, Ricardo; Rodriguez-Vazquez, Angel

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2017
Volumen: 17
Número: 3
Número de artículo: 7755800
Páginas: 632 - 643
Acceso abierto: Vía verde
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus915-06-2024
wos915-06-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2017

Journal Impact Factor (JIF): 2,617

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATIONSCIE14/61Q1T1D3
PHYSICS, APPLIEDSCIE48/146Q2T1D4
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE88/260Q2T2D4

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,960

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC95/306Q2T1D469,12
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION16/69Q1T1D377,54
PHYSICS, APPLIED34/165Q1T1D379,70

Año:

2017

CiteScore:

4,900

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering109/666Q1T1D2
Instrumentation14/123Q1T1D2

SJR año:

2017

Factor de Impacto:

0,619

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering146/682Q1T1D3
Instrumentation31/131Q2T1D3
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Agencia Código de Proyecto
Junta de Andalucia, Consejeria de Economia, Innovacion, Ciencia y EmpleoP12-TIC 2338
Office of Naval Research, USAN000141410355
Spanish Ministry of Economy through the European Region Development Fund, ERDF/FEDERTEC2015-66878-C3-1-R
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Vornicu, Ion CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Bandi, Franco N.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
3Carmona-Galan, RicardoCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
4Rodriguez-Vazquez, AngelCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)