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Applications of event-based image sensors-Review and analysis

Leñero-Bardallo, Juan A. ; Carmona-Galán, Ricardo; Rodríguez-Vázquez, Angel

Tipo: Revisión
Año de Publicación: 2018
Volumen: 46
Número: 9
Páginas: 1620 - 1630
Acceso abierto: Vía verde
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1815-06-2024
wos1515-06-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2018

Journal Impact Factor (JIF): 1,554

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE172/266Q3T2D7

Año: 2018

Journal Citation Indicator (JCI): 0,520

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC170/312Q3T2D645,67

Año:

2018

CiteScore:

3,000

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Applied Mathematics117/482Q1T1D3
Electrical and Electronic Engineering227/669Q2T2D4
Computer Science Applications242/590Q2T2D5
Electronic, Optical and Magnetic Materials94/227Q2T2D5

SJR año:

2018

Factor de Impacto:

0,331

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering278/714Q2T2D4
Computer Science Applications319/674Q3T2D5
Applied Mathematics293/534Q3T2D6
Electronic, Optical and Magnetic Materials126/237Q3T2D6
No existen datos para la revista de esta publicación.
Agencia Código de Proyecto
Junta de Andalucia CEICETIC 2012-2338
Spanish Ministry of Economy and CompetitivenessTEC2015-66878-C3-1-R
US Office of Naval Research GlobalN000141410355
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Leñero-Bardallo, Juan A. CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Carmona-Galán, RicardoCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
3Rodríguez-Vázquez, AngelCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)