Año: 2009
Journal Impact Factor (JIF): 1.420
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | 80/246 | Q2 | T1 | D4 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 1,070
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 79/306 | Q2 | T1 | D3 | 74,35 |
Año:
2011
CiteScore:
4,400
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electrical and Electronic Engineering | 65/589 | Q1 | T1 | D2 |
SJR año:
2009
Factor de Impacto:
0,975
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electrical and Electronic Engineering | 80/598 | Q1 | T1 | D2 |
Agencia | Código de Proyecto |
---|---|
- | TEC2006-12376-C02-01 |
DIVISA | TEC200615722 |
# | Autor | Afiliación |
---|---|---|
1 | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM); Empa - Swiss Federal Laboratories for Materials Science and Technology (Switzerland) | |
2 | Vidal-Verdú, Fernando | Universidad de Malaga (Spain) |
3 | Liñán, Gustavo | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
4 | Rodriguez-Vazquez, Ángel | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |