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Special Section on the 2014 IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC 2014)

De La Rosa, José M. ; Chiang, Patrick; Clark, Lawrence T.

Tipo: Editorial
Año de Publicación: 2015
Volumen: 62
Número: 8
Páginas: 1897 - 1898
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus013-11-2024
wos013-11-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2015

Journal Impact Factor (JIF): 2.3930

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE44/257Q1T1D2

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 1,070

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC79/306Q2T1D374,35

Año:

2015

CiteScore:

6,400

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering51/660Q1T1D1

SJR año:

2015

Factor de Impacto:

1,173

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering70/677Q1T1D2
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# Autor Afiliación
1De La Rosa, José M. CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Chiang, PatrickOregon State University (United States)
3Clark, Lawrence T.Arizona State University (United States)