Año: 2015
Journal Impact Factor (JIF): 2.3930
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | 44/257 | Q1 | T1 | D2 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 1,070
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 79/306 | Q2 | T1 | D3 | 74,35 |
Año:
2015
CiteScore:
6,400
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electrical and Electronic Engineering | 51/660 | Q1 | T1 | D1 |
SJR año:
2015
Factor de Impacto:
1,173
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electrical and Electronic Engineering | 70/677 | Q1 | T1 | D2 |
# | Autor | Afiliación |
---|---|---|
1 | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) | |
2 | Chiang, Patrick | Oregon State University (United States) |
3 | Clark, Lawrence T. | Arizona State University (United States) |