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Special Issue on the 2018 IEEE International Symposium on Circuits and Systems

De La Rosa, Jose M.; Setti, Gianluca 

Tipo: Editorial
Año de Publicación: 2018
Volumen: 65
Número: 5
Páginas: 531 - 531
Acceso abierto: Vía bronce
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus012-10-2024
wos012-10-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2018

Journal Impact Factor (JIF): 3.250

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE80/266Q2T1D3

Año: 2018

Journal Citation Indicator (JCI): 0,980

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC93/312Q2T1D370,35

Año:

2018

CiteScore:

4,600

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering137/669Q1T1D3

SJR año:

2018

Factor de Impacto:

0,846

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering111/714Q1T1D2
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# Autor Afiliación
1De La Rosa, Jose M.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Setti, Gianluca Politecnico di Torino (Italy)