Año: 2018
Journal Impact Factor (JIF): 3.250
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | 80/266 | Q2 | T1 | D3 |
Año: 2018
Journal Citation Indicator (JCI): 0,980
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 93/312 | Q2 | T1 | D3 | 70,35 |
Año:
2018
CiteScore:
4,600
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electrical and Electronic Engineering | 137/669 | Q1 | T1 | D3 |
SJR año:
2018
Factor de Impacto:
0,846
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electrical and Electronic Engineering | 111/714 | Q1 | T1 | D2 |
# | Autor | Afiliación |
---|---|---|
1 | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) | |
2 | Bonizzoni, Edoardo | Università degli Studi di Pavia (Italy) |
3 | Maloberti, Franco | Università degli Studi di Pavia (Italy) |