Año: 2007
Journal Impact Factor (JIF): 0.2790
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | 36/45 | Q4 | T3 | D8 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | 174/227 | Q4 | T3 | D8 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 0,310
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | 51/57 | Q4 | T3 | D9 | 11,40 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 226/306 | Q3 | T3 | D8 | 26,31 |
Año:
2011
CiteScore:
1,300
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Surfaces, Coatings and Films | 44/91 | Q2 | T2 | D5 |
Signal Processing | 44/67 | Q3 | T2 | D7 |
Hardware and Architecture | 95/134 | Q3 | T3 | D8 |
SJR año:
2007
Factor de Impacto:
0,231
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Surfaces, Coatings and Films | 59/104 | Q3 | T2 | D6 |
Hardware and Architecture | 75/111 | Q3 | T3 | D7 |
Signal Processing | 37/55 | Q3 | T3 | D7 |
# | Autor | Afiliación |
---|---|---|
1 | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) | |
2 | Peralías, Eduardo | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
3 | Yúfera, Alberto | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
4 | Rueda, Adoración | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |