Año: 2004
Journal Impact Factor (JIF): 1.7560
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | 29/209 | Q1 | T1 | D2 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 1,490
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 48/306 | Q1 | T1 | D2 | 84,48 |
Año:
2011
CiteScore:
8,400
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electrical and Electronic Engineering | 13/589 | Q1 | T1 | D1 |
SJR año:
2004
Factor de Impacto:
2,773
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electrical and Electronic Engineering | 11/479 | Q1 | T1 | D1 |
# | Autor | Afiliación |
---|---|---|
1 | Imperial College London (United Kingdom) | |
2 | Yúfera, Alberto | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
3 | Rueda, Adoracion | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |