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On-chip characterisation of RF systems based on envelope response analysis

Barragán, M. J. ; Fiorelli, R.; Vázquez, D.; Rueda, A.; Huertas, J. L.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2010
Volumen: 46
Número: 1
Páginas: 36 - 37
Acceso abierto: Vía verde
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus813-07-2024
wos813-07-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2010

Journal Impact Factor (JIF): 1.0040

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE124/247Q3T2D6

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,480

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC177/306Q3T2D642,32

Año:

2011

CiteScore:

2,500

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering162/589Q2T1D3

SJR año:

2010

Factor de Impacto:

0,603

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering144/613Q1T1D3
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Agencia Código de Proyecto
Junta de Andalucia through projectsTIC-927
Spanish GovernmentTEST (TEC2007-68072/MIC); SR2 (TSI-020400-2008-71/MEDEA + 2A105); TOETS (CATRENE/MEDEA + 2 CT302)
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Barragán, M. J. CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Fiorelli, R.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
3Vázquez, D.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
4Rueda, A.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
5Huertas, J. L.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)