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The use of X-ray photoelectron spectroscopy to characterize fine AlN powders submitted to mechanical attrition

Sanchez-Lopez, JC ; Alcala, MD; Real, C; Fernandez, A

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 1999
Volumen: 11
Número: 2
Páginas: 249 - 257
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus2421-12-2024
wos2621-12-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 1999

Journal Impact Factor (JIF): 1.0690

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCESCIE32/159Q1T1D2

SJR año:

1999

Factor de Impacto:

1,012

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Materials Science (miscellaneous)44/346Q1T1D2
Condensed Matter Physics72/311Q1T1D3
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# Autor Afiliación
1Sanchez-Lopez, JC CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
2Alcala, MDCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
3Real, CCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
4Fernandez, ACSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)