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SnO2 thin films prepared by ion beam induced CVD: preparation and characterization by X-ray absorption spectroscopy

Jimenez, VM; Espinos, JP; Caballero, A; Contreras, L; Fernandez, A; Justo, A; Gonzalez-Elipe, AR 

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 1999
Volumen: 353
Número: 1-2
Páginas: 113 - 123
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus4113-11-2024
wos3713-11-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 1999

Journal Impact Factor (JIF): 1.1010

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCESCIE31/159Q1T1D2
PHYSICS, APPLIEDSCIE28/67Q2T2D5
PHYSICS, CONDENSED MATTERSCIE25/54Q2T2D5

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,520

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
MATERIALS SCIENCE, COATINGS & FILMS8/21Q2T2D464,29
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY161/343Q2T2D553,21
PHYSICS, APPLIED78/165Q2T2D553,03
PHYSICS, CONDENSED MATTER34/74Q2T2D554,73

Año:

2011

CiteScore:

3,400

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Materials Chemistry39/233Q1T1D2
Metals and Alloys13/126Q1T1D2
Surfaces, Coatings and Films14/91Q1T1D2
Electronic, Optical and Magnetic Materials41/183Q1T1D3
Surfaces and Interfaces11/49Q1T1D3

SJR año:

1999

Factor de Impacto:

0,900

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Metals and Alloys14/148Q1T1D1
Materials Chemistry43/206Q1T1D3
Surfaces, Coatings and Films19/94Q1T1D3
Electronic, Optical and Magnetic Materials37/137Q2T1D3
Surfaces and Interfaces17/46Q2T2D4
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# Autor Afiliación
1Jimenez, VMUniversidad de Sevilla (Spain)
2Espinos, JPUniversidad de Sevilla (Spain)
3Caballero, AUniversidad de Sevilla (Spain)
4Contreras, LUniversidad de Sevilla (Spain)
5Fernandez, AUniversidad de Sevilla (Spain)
6Justo, AUniversidad de Sevilla (Spain)
7Gonzalez-Elipe, AR Universidad de Sevilla (Spain)