Año: 2005
Journal Impact Factor (JIF): 0,350
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | 151/208 | Q3 | T3 | D8 |
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | 25/27 | Q4 | T3 | D10 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 0,370
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 214/306 | Q3 | T3 | D7 | 30,23 |
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | 76/116 | Q3 | T2 | D7 | 34,91 |
# | Autor | Afiliación |
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1 | Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés (France) | |
2 | Mir-,Salvador | Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés (France) |
3 | Vazquez-Garcia De La Vega, Diego | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
4 | Rolindez-,Luis | Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés; STMicroelectronics SA, France (France) |