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Transfer function analysis of the micro cantilever used in atomic force microscopy

Rubio-Sierra, Francisco Javier; Vázquez, Rafael; Stark, Robert W.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2006
Volumen: 5
Número: 6
Páginas: 692 - 700
Acceso abierto: Vía verde
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus3513-11-2024
wos3213-11-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2006

Journal Impact Factor (JIF): 1.9090

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE27/206Q1T1D2
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARYSCIE38/176Q1T1D3
PHYSICS, APPLIEDSCIE22/84Q2T1D3
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGYSCIE15/32Q2T2D5

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,720

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC131/306Q2T2D557,35
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY110/343Q2T1D468,08
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY48/116Q2T2D559,05
PHYSICS, APPLIED54/165Q2T1D467,58

Año:

2011

CiteScore:

3,700

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Computer Science Applications88/453Q1T1D2
Electrical and Electronic Engineering93/589Q1T1D2

SJR año:

2006

Factor de Impacto:

1,543

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Computer Science Applications28/331Q1T1D1
Electrical and Electronic Engineering36/527Q1T1D1
Nanoscience and Nanotechnology10/39Q1T1D3
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# Autor Afiliación
1Rubio-Sierra, Francisco JavierLudwig-Maximilians-Universität München (Germany)
2Vázquez, RafaelDepartment of Mechanical and Aerospace Engineering (United States)
3Stark, Robert W.Ludwig-Maximilians-Universität München (Germany)