Año: 2010
Journal Impact Factor (JIF): 3.8410
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
PHYSICS, APPLIED | SCIE | 15/118 | Q1 | T1 | D2 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 0,960
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
PHYSICS, APPLIED | 34/165 | Q1 | T1 | D3 | 79,70 |
Año:
2011
CiteScore:
7,000
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Physics and Astronomy (miscellaneous) | 4/37 | Q1 | T1 | D2 |
SJR año:
2010
Factor de Impacto:
2,920
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Physics and Astronomy (miscellaneous) | 10/243 | Q1 | T1 | D1 |
Agencia | Código de Proyecto |
---|---|
French ANR | - |
Nord-Pas de Calais Regional Council | - |
# | Autor | Afiliación |
---|---|---|
1 | IEMN Institut d'Electronique de Microélectronique et de Nanotechnologie (France) | |
2 | Godey-,Sylvie | IEMN Institut d'Electronique de Microélectronique et de Nanotechnologie (France) |
3 | Ferrer-Fernández, Francisco Javier | IEMN Institut d'Electronique de Microélectronique et de Nanotechnologie (France) |
4 | Vignaud-,Dominique | IEMN Institut d'Electronique de Microélectronique et de Nanotechnologie (France) |
5 | Wallart-,Xavier | IEMN Institut d'Electronique de Microélectronique et de Nanotechnologie (France) |
6 | Avila-,J | SOLEIL Synchrotron (France) |
7 | Asensio-,M. Carmen | SOLEIL Synchrotron (France) |
8 | Bournel-,F. | Sorbonne Universite (France) |
9 | Gallet-,J.-J. | Sorbonne Universite (France) |