Ver Publicación - Prisma - Unidad de Bibliometría

AlN thin films prepared by ion beam induced chemical vapour deposition

Sanchez-Lopez, JC; Contreras, L; Fernandez, A; Gonzalez-Elipe, AR ; Martin, JM; Vacher, B

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 1998
Volumen: 317
Número: 1-2
Páginas: 100 - 104
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1524-02-2024
wos1624-02-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 1998

Journal Impact Factor (JIF): 1,019

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCESCIE28/143Q1T1D2
PHYSICS, APPLIEDSCIE28/66Q2T2D5
PHYSICS, CONDENSED MATTERSCIE22/48Q2T2D5

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,520

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
MATERIALS SCIENCE, COATINGS & FILMS8/21Q2T2D464,29
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY161/343Q2T2D553,21
PHYSICS, APPLIED78/165Q2T2D553,03
PHYSICS, CONDENSED MATTER34/74Q2T2D554,73

Año:

2011

CiteScore:

3,400

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Materials Chemistry39/233Q1T1D2
Metals and Alloys13/126Q1T1D2
Surfaces, Coatings and Films14/91Q1T1D2
Electronic, Optical and Magnetic Materials41/183Q1T1D3
Surfaces and Interfaces11/49Q1T1D3

SJR año:

1999

Factor de Impacto:

0,900

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Metals and Alloys14/148Q1T1D1
Materials Chemistry43/206Q1T1D3
Surfaces, Coatings and Films19/94Q1T1D3
Electronic, Optical and Magnetic Materials37/137Q2T1D3
Surfaces and Interfaces17/46Q2T2D4
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# Autor Afiliación
1Sanchez-Lopez, JCCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
2Contreras, LCSIC-USE - Instituto de Investigaciones Quimicas (IIQ) (Spain)
3Fernandez, ACSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
4Gonzalez-Elipe, AR CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
5Martin, JMCNRS Centre National de la Recherche Scientifique (France)
6Vacher, BCNRS Centre National de la Recherche Scientifique (France)