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The Origin of Defects Induced in Ultra-Pure Germanium by Electron Beam Deposition

Coelho, Sergio M.M. ; Archilla, Juan F.R.; Danie Auret, F.; Nel, Jackie M.

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2015
Volumen: 221
Páginas: 363 - 380
Acceso abierto: Vía verde
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus729-10-2024
wos529-10-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año:

2015

CiteScore:

0,400

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
General Materials Science347/437Q4T3D8

SJR año:

2015

Factor de Impacto:

0,169

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Materials Science (miscellaneous)379/562Q3T3D7
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# Autor Afiliación
1Coelho, Sergio M.M. Universiteit van Pretoria (South Africa)
2Archilla, Juan F.R.Universidad de Sevilla (Spain)
3Danie Auret, F.Universiteit van Pretoria (South Africa)
4Nel, Jackie M.Universiteit van Pretoria (South Africa)