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Special Issue on the 2019 IEEE International Symposium on Circuits and Systems

De La Rosa, Jose M. ; Nishio, Yoshifumi

Tipo: Editorial
Año de Publicación: 2019
Volumen: 66
Número: 5
Número de artículo: 8703190
Páginas: 717 - 717
Acceso abierto: Vía bronce
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus012-10-2024
wos012-10-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2019

Journal Impact Factor (JIF): 2.8140

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE107/266Q2T2D5

Año: 2019

Journal Citation Indicator (JCI): 0,910

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC98/318Q2T1D469,34

Año:

2019

CiteScore:

5,100

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering143/670Q1T1D3

SJR año:

2019

Factor de Impacto:

0,929

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering121/754Q1T1D2
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# Autor Afiliación
1De La Rosa, Jose M. CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Nishio, YoshifumiTokushima University (Japan)