Año: 2019
Journal Impact Factor (JIF): 2.8140
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | 107/266 | Q2 | T2 | D5 |
Año: 2019
Journal Citation Indicator (JCI): 0,910
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 98/318 | Q2 | T1 | D4 | 69,34 |
Año:
2019
CiteScore:
5,100
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electrical and Electronic Engineering | 143/670 | Q1 | T1 | D3 |
SJR año:
2019
Factor de Impacto:
0,929
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electrical and Electronic Engineering | 121/754 | Q1 | T1 | D2 |
# | Autor | Afiliación |
---|---|---|
1 | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) | |
2 | Nishio, Yoshifumi | Tokushima University (Japan) |