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A BIST Solution for the Functional Characterization of RF Systems Based on Envelope Response Analysis

Barragán, Manuel J. ; Fiorelli, Rafaella; Vázquez, Diego; Rueda, Adoración; Huertas, José L.

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2009
Páginas: 255 - 260
Acceso abierto: Vía verde
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus429-10-2024
wos329-10-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año:

2011

CiteScore:

1,300

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering290/589Q2T2D5
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# Autor Afiliación
1Barragán, Manuel J. Universidad de Sevilla (Spain)
2Fiorelli, RafaellaUniversidad de Sevilla (Spain)
3Vázquez, DiegoUniversidad de Sevilla (Spain)
4Rueda, AdoraciónUniversidad de Sevilla (Spain)
5Huertas, José L.Universidad de Sevilla (Spain)