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Combined use of XPS, IR and EDAX techniques for the characterization of ZrO2-SiO2 powders prepared by a sol-gel process

NAVIO, JA ; MACIAS, M; COLON, G; SANCHEZSOTO, PJ; AUGULIARO, V; PALMISANO, L

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 1994
Volumen: 81
Número: 3
Páginas: 325 - 329
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus2721-12-2024
wos2721-12-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 1997

Journal Impact Factor (JIF): 0.8730

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCE, COATINGS & FILMSSCIE5/13Q2T2D4
PHYSICS, APPLIEDSCIE31/62Q2T2D5
PHYSICS, CONDENSED MATTERSCIE28/45Q3T2D7
CHEMISTRY, PHYSICALSCIE60/86Q3T3D7

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 1,030

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
CHEMISTRY, PHYSICAL34/156Q1T1D378,53
MATERIALS SCIENCE, COATINGS & FILMS1/21Q1T1D197,62
PHYSICS, APPLIED29/165Q1T1D282,73
PHYSICS, CONDENSED MATTER14/74Q1T1D281,76

Año:

2011

CiteScore:

3,400

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Surfaces, Coatings and Films16/91Q1T1D2

SJR año:

1999

Factor de Impacto:

1,017

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Surfaces, Coatings and Films14/94Q1T1D2
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# Autor Afiliación
1NAVIO, JA Universidad de Sevilla (Spain)
2MACIAS, MUniversidad de Sevilla (Spain)
3COLON, GUniversidad de Sevilla (Spain)
4SANCHEZSOTO, PJUniversidad de Sevilla (Spain)
5AUGULIARO, VUniversità degli Studi di Palermo (Italy)
6PALMISANO, LUniversità degli Studi di Palermo (Italy)