Año: 2011
Journal Impact Factor (JIF): 2.3180
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | 34/245 | Q1 | T1 | D2 |
PHYSICS, APPLIED | SCIE | 29/125 | Q1 | T1 | D3 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 0,860
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 107/306 | Q2 | T2 | D4 | 65,20 |
PHYSICS, APPLIED | 41/165 | Q1 | T1 | D3 | 75,46 |
Año:
2011
CiteScore:
4,900
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electrical and Electronic Engineering | 55/589 | Q1 | T1 | D1 |
Electronic, Optical and Magnetic Materials | 23/183 | Q1 | T1 | D2 |
SJR año:
2011
Factor de Impacto:
1,699
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electrical and Electronic Engineering | 29/629 | Q1 | T1 | D1 |
Electronic, Optical and Magnetic Materials | 19/189 | Q1 | T1 | D2 |
Agencia | Código de Proyecto |
---|---|
National Energy Research | - |
# | Autor | Afiliación |
---|---|---|
1 | IEMN Institut d'Electronique de Microélectronique et de Nanotechnologie (France) | |
2 | Fernández, J. Ferrer | IEMN Institut d'Electronique de Microélectronique et de Nanotechnologie (France) |
3 | Vignaud, Dominique | IEMN Institut d'Electronique de Microélectronique et de Nanotechnologie (France) |
4 | Dambrine, Gilles | IEMN Institut d'Electronique de Microélectronique et de Nanotechnologie (France) |
5 | Happy, Henri | IEMN Institut d'Electronique de Microélectronique et de Nanotechnologie (France) |