Año: 2011
Journal Impact Factor (JIF): 2.1680
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
PHYSICS, APPLIED | SCIE | 37/125 | Q2 | T1 | D3 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 0,600
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
PHYSICS, APPLIED | 65/165 | Q2 | T2 | D4 | 60,91 |
Año:
2011
CiteScore:
3,700
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
General Physics and Astronomy | 37/190 | Q1 | T1 | D2 |
SJR año:
2011
Factor de Impacto:
1,374
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Physics and Astronomy (miscellaneous) | 35/253 | Q1 | T1 | D2 |
Agencia | Código de Proyecto |
---|---|
ANR | - |
European Union | - |
Nord-Pas de Calais Regional Council | - |
# | Autor | Afiliación |
---|---|---|
1 | CSIC-JA-USE - Centro Nacional de Aceleradores (CNA); IEMN Institut d'Electronique de Microélectronique et de Nanotechnologie (Spain) | |
2 | Moreau, E. | IEMN Institut d'Electronique de Microélectronique et de Nanotechnologie (France) |
3 | Vignaud, D. | IEMN Institut d'Electronique de Microélectronique et de Nanotechnologie (France) |
4 | Deresmes, D. | IEMN Institut d'Electronique de Microélectronique et de Nanotechnologie (France) |
5 | Godey, S. | IEMN Institut d'Electronique de Microélectronique et de Nanotechnologie (France) |
6 | Wallart, X. | IEMN Institut d'Electronique de Microélectronique et de Nanotechnologie (France) |