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Initial stages of graphitization on SiC(000-1), as studied by phase atomic force microscopy

Ferrer, F. J. ; Moreau, E.; Vignaud, D.; Deresmes, D.; Godey, S.; Wallart, X.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2011
Volumen: 109
Número: 5
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1415-06-2024
wos1215-06-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2011

Journal Impact Factor (JIF): 2,168

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
PHYSICS, APPLIEDSCIE37/125Q2T1D3

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,600

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
PHYSICS, APPLIED65/165Q2T2D460,91

Año:

2011

CiteScore:

3,700

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
General Physics and Astronomy37/190Q1T1D2

SJR año:

2011

Factor de Impacto:

1,374

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Physics and Astronomy (miscellaneous)35/253Q1T1D2
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Agencia Código de Proyecto
ANR-
European Union-
Nord-Pas de Calais Regional Council-
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Ferrer, F. J. CSIC-JA-USE - Centro Nacional de Aceleradores (CNA); IEMN Institut d'Electronique de Microélectronique et de Nanotechnologie (Spain)
2Moreau, E.IEMN Institut d'Electronique de Microélectronique et de Nanotechnologie (France)
3Vignaud, D.IEMN Institut d'Electronique de Microélectronique et de Nanotechnologie (France)
4Deresmes, D.IEMN Institut d'Electronique de Microélectronique et de Nanotechnologie (France)
5Godey, S.IEMN Institut d'Electronique de Microélectronique et de Nanotechnologie (France)
6Wallart, X.IEMN Institut d'Electronique de Microélectronique et de Nanotechnologie (France)