Año: 1997
Journal Impact Factor (JIF): 0.8580
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | 12/46 | Q2 | T1 | D3 |
CHEMISTRY, ANALYTICAL | SCIE | 40/61 | Q3 | T2 | D7 |
ELECTROCHEMISTRY | SCIE | 7/9 | Q4 | T3 | D8 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 1,770
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
CHEMISTRY, ANALYTICAL | 6/93 | Q1 | T1 | D1 | 94,09 |
ELECTROCHEMISTRY | 3/36 | Q1 | T1 | D1 | 93,06 |
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | 3/69 | Q1 | T1 | D1 | 96,38 |
Año:
2011
CiteScore:
6,000
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Condensed Matter Physics | 25/383 | Q1 | T1 | D1 |
Electrical and Electronic Engineering | 35/589 | Q1 | T1 | D1 |
Electronic, Optical and Magnetic Materials | 17/183 | Q1 | T1 | D1 |
Instrumentation | 2/90 | Q1 | T1 | D1 |
Materials Chemistry | 13/233 | Q1 | T1 | D1 |
Metals and Alloys | 5/126 | Q1 | T1 | D1 |
Surfaces, Coatings and Films | 7/91 | Q1 | T1 | D1 |
SJR año:
1999
Factor de Impacto:
0,916
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Metals and Alloys | 13/148 | Q1 | T1 | D1 |
Electrical and Electronic Engineering | 52/418 | Q1 | T1 | D2 |
Instrumentation | 10/66 | Q1 | T1 | D2 |
Materials Chemistry | 40/206 | Q1 | T1 | D2 |
Surfaces, Coatings and Films | 18/94 | Q1 | T1 | D2 |
Electronic, Optical and Magnetic Materials | 35/137 | Q1 | T1 | D3 |
Condensed Matter Physics | 83/311 | Q2 | T1 | D3 |
# | Autor | Afiliación |
---|---|---|
1 | Universidad de Sevilla (Spain) | |
2 | Centeno, MA | Universidad de Sevilla (Spain) |
3 | Picard, CLD | Universite de Rennes 1 (France) |
4 | Merdrignac, O | Universite de Rennes 1 (France) |
5 | Laurent, Y | Universite de Rennes 1 (France) |
6 | Odriozola, JA | Universidad de Sevilla (Spain) |