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Deconvolution of X-ray diffraction profiles by using series expansion

Sanchez-Bajo, F ; Cumbrera, FL

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2000
Volumen: 33
Número: 2
Páginas: 259 - 266
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus913-11-2024
wos1013-11-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2000

Journal Impact Factor (JIF): 1.7520

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
CRYSTALLOGRAPHYSCIE2/17Q1T1D1

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,910

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
CHEMISTRY, MULTIDISCIPLINARY51/205Q1T1D375,37
CRYSTALLOGRAPHY9/31Q2T1D372,58

Año:

2011

CiteScore:

7,200

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
General Biochemistry,Genetics and Molecular Biology21/159Q1T1D2

SJR año:

2000

Factor de Impacto:

0,999

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Biochemistry, Genetics and Molecular Biology (miscellaneous)19/112Q1T1D2
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# Autor Afiliación
1Sanchez-Bajo, F Universidad de Extremadura (Spain)
2Cumbrera, FLUniversidad de Extremadura (Spain)