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Novel analytical model for the determination of grain size distributions in nanocrystalline materials with low lattice microstrains by X-ray diffractometry

Sánchez-Bajo, F.; Ortiz, A. L. ; Cumbrera, F. L.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2006
Volumen: 54
Número: 1
Páginas: 1 - 10
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus4713-04-2024
wos4513-04-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2006

Journal Impact Factor (JIF): 3,549

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
METALLURGY & METALLURGICAL ENGINEERINGSCIE2/65Q1T1D1
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARYSCIE20/176Q1T1D2

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 2,040

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY23/343Q1T1D193,44
METALLURGY & METALLURGICAL ENGINEERING1/86Q1T1D199,42

Año:

2011

CiteScore:

6,500

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Ceramics and Composites5/79Q1T1D1
Electronic, Optical and Magnetic Materials15/183Q1T1D1
Metals and Alloys4/126Q1T1D1
Polymers and Plastics9/136Q1T1D1

SJR año:

2006

Factor de Impacto:

3,615

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Ceramics and Composites2/93Q1T1D1
Electronic, Optical and Magnetic Materials3/155Q1T1D1
Metals and Alloys2/162Q1T1D1
Polymers and Plastics2/176Q1T1D1
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# Autor Afiliación
1Sánchez-Bajo, F.Universidad de Extremadura (Spain)
2Ortiz, A. L. Universidad de Extremadura (Spain)
3Cumbrera, F. L.Universidad de Extremadura (Spain)