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Comparison of the thickness determined by fresnel contrast and rutherford backscattering spectrometry in ultra-thin layers

Ponce, A.; Molina, S. I.; García-López, J.; Battistig, G.

Tipo: Capítulo
Año de Publicación: 2018
Páginas: 305 - 308
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus021-12-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric
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# Autor Afiliación
1Ponce, A.Universidad de Cadiz (Spain)
2Molina, S. I.Universidad de Cadiz (Spain)
3García-López, J.Universidad de Cadiz (Spain)
4Battistig, G.Universidad de Sevilla (Spain)