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Publicaciones en la fuente IEEE VLSI Test Symposium

Tipo Año Título Fuente
Ponencia2002Practical solutions for the application of the oscillation-based-test: Start-up and on-chip evaluation20TH IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS
Ponencia2001Self-testable pipelined ADC with low hardware overhead19TH IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS
Ponencia1998Self-timed boundary-scan cells for multi-chip module test16TH IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS