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Publicaciones en la fuente 2023 IEEE International Conference on Metrology for eXtended Reality, Artificial Intelligence and Neural Engineering, MetroXRAINE 2023 - Proceedings

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Ponencia2023An Analog-to-Information Architecture for Single-Chip Sensor-Processor Inference System2023 IEEE International Conference on Metrology for eXtended Reality, Artificial Intelligence and Neural Engineering, MetroXRAINE 2023 - Proceedings