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Dispositivo generador de patrones longitudinales.

Tipo: Patente
Titulares:
UNIVERSIDAD DE SEVILLA (100%)
Inventores:
Gonzalez Lopez,Mercedes
Lapetra Coderque, Carlos
Gonzalez Gomez, Francisco M
Solicitud
29-11-2004
Concesión
29-10-2008
Dispositivo generador de patrones longitudinales.La presente invención según se expresa en el enunciado de esta memoria descriptiva, se refiere a un dispositivo generador de patrones longitudinales que se utilizan como referencia en la calibración de instrumentos de medida longitudinales. El dispositivo es, por tanto, un banco de calibración de equipos de medida dimensionales del tipo: pie de rey, micrómetro de exteriores e interiores de dos contactos, medidor de espesor, etcétera.Esta invención encuentra su campo de aplicación en la industria en general aunque más específicamente en aquellos sectores de la misma donde se requiere calidad metrológica en medidas longitudinales, por ejemplo, en la industria del automóvil, el sector naval o el aeronáutico.
Materia: Física
CIP: G01B11/02 (2006.01)
CPC: G01B11/026 (ES)