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Dispositivo portamuestras para el estudio de interfases mediante difracción de rayos x en modo transmisión.

Tipo: Patente
Titulares:
CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS (CSIC) (50%)
UNIVERSIDAD DE SEVILLA (50%)
Inventores:
Millan Chacartegui, Carmen
Medina Carrasco, Santiago
Alba Carranza, Maria Dolores
Solicitud
14-12-2009
Concesión
30-12-2011
Familia
PCT/ES2010/000498
Dispositivo portamuestras para el estudio de interfases mediante difracción de rayos x en modo transmisión configurado para realizar medidas de difracción en modo transmisión para cámaras de temperatura en equipos de difracción de rayos X, para muestras pulverulentas disponibles en modo comercial caracterizado porque comprende un cuerpo esencialmente en forma de "T" invertida (1A, 1B, 1C) , en donde el cuerpo central (1C) comprende, a su vez, en su parte frontal un orificio (2) configurado para la introducción de un termopar, así como dos ventanas (3, 4);estando además la primera ventana superior (3) configurada para la introducción de muestras y la segunda ventana lateral (4) configurada para la alineación espacial vertical de la muestra mediante la alineación del haz de la propia cámara.
Materia: Física
CIP: G01N23/207 (2006.01); G01N23/20 (2006.01)
CPC: G01N23/207 (ES); G01N23/20033 (ES); G01N23/20025 (EP)