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Clock switching: A new Design for current Testability (DcT) method for dynamic logic circuits

Rosing, R.; Richardson, A. M.D.; Aimine, Y. E.; Kerkhoff, H. G.; Acosta, A. J.

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 1998
Páginas: 20 - 25
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus415-06-2024
wos115-06-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric
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# Autor Afiliación
1Rosing, R.Lancaster University (United Kingdom)
2Richardson, A. M.D.Lancaster University (United Kingdom)
3Aimine, Y. E.Lancaster University (United Kingdom)
4Kerkhoff, H. G.MESA Institute for Nanotechnology (Netherlands)
5Acosta, A. J.CSIC - Instituto de Microelectronica de Barcelona (IMB-CNM) (Spain)