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A fault tolerance analysis of a neocognitron model

Xu, Q.; Jurgens, C.; Arrue, B.; Minnix, J.; Johnson, B.; Íñigo, R. M.

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 1990
Páginas: B559 - B562
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
wos015-12-2024
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# Autor
1Xu, Q.
2Jurgens, C.
3Arrue, B.
4Minnix, J.
5Johnson, B.
6Íñigo, R. M.