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Yield-aware multi-objective optimization of a MEMS accelerometer system using QMC-based methodologies

Pak, Murat ; Fernández, Francisco V.; Dundar, Gunhan

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2020
Volumen: 103
Número de artículo: 104876
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus213-11-2024
wos229-10-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2020

Journal Impact Factor (JIF): 1.6050

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE194/273Q3T3D8
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGYSCIE93/106Q4T3D9

Año: 2020

Journal Citation Indicator (JCI): 0,340

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC231/319Q3T3D827,74
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY92/128Q3T3D828,52

Año:

2023

CiteScore:

4,000

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Atomic and Molecular Physics, and Optics101/224Q2T2D5
Condensed Matter Physics181/434Q2T2D5
Electrical and Electronic Engineering332/797Q2T2D5
Electronic, Optical and Magnetic Materials133/284Q2T2D5
Surfaces, Coatings and Films61/132Q2T2D5

SJR año:

2023

Factor de Impacto:

0,390

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Atomic and Molecular Physics, and Optics117/210Q3T2D6
Condensed Matter Physics226/431Q3T2D6
Electrical and Electronic Engineering367/723Q3T2D6
Electronic, Optical and Magnetic Materials152/262Q3T2D6
Surfaces, Coatings and Films70/134Q3T2D6
Nanoscience and Nanotechnology50/77Q3T2D7
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# Autor Afiliación
1Pak, Murat Bogaziçi Üniversitesi (Turkey)
2Fernández, Francisco V.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
3Dundar, GunhanBogaziçi Üniversitesi (Turkey)