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COMPUTER INTEGRATED MANUFACTURING IN SEMICONDUCTOR INDUSTRY. AUTOMATION, ELECTRONIC WAFER MAPPING, DEFECT REDUCTION AND EQUIPMENT UTILIZATION IMPROVEMENT IN PROBE AND FINAL TEST

Moreno Lizaranzu, Manuel Jose

Tipo: Tesis
Prog. doctorado: Código 1192
Lectura: 21/12/2012 en Universidad de Sevilla
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
dialnet012-11-2024
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Sobresaliente "Cum Laude" por unanimidad

Mención en Doctorado Europeo

# Autor Departamento
1Moreno Lizaranzu, Manuel JoseNo pertenece a la US
# Director de la tesis Departamento
1Cuesta Rojo, FedericoIngeniería de Sistemas y Automática
# Tutor de la tesis Departamento
1Fernandez Camacho, EduardoNo pertenece a la US