Año: 2017
Journal Impact Factor (JIF): 1,444
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | 159/260 | Q3 | T2 | D7 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 0,590
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 154/306 | Q3 | T2 | D6 | 49,84 |
Año:
2017
CiteScore:
2,900
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Applied Mathematics | 103/443 | Q1 | T1 | D3 |
Electrical and Electronic Engineering | 216/666 | Q2 | T1 | D4 |
Computer Science Applications | 214/569 | Q2 | T2 | D4 |
Electronic, Optical and Magnetic Materials | 89/225 | Q2 | T2 | D4 |
SJR año:
2017
Factor de Impacto:
0,366
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electrical and Electronic Engineering | 243/626 | Q2 | T2 | D4 |
Computer Science Applications | 282/539 | Q3 | T2 | D6 |
Electronic, Optical and Magnetic Materials | 119/211 | Q3 | T2 | D6 |
Applied Mathematics | 278/432 | Q3 | T2 | D7 |
# | Autor | Afiliación |
---|---|---|
1 | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) | |
2 | Addabbo, Tommaso | Università degli Studi di Siena (Italy) |