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Exploiting Fault Model Correlations to Accelerate SEU Sensitivity Assessment

Grosso, Michelangelo ; Guzman-Miranda, Hipólito; Aguirre, Miguel A.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2013
Volumen: 9
Número: 1
Páginas: 142 - 148
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus929-10-2024
wos829-10-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2013

Journal Impact Factor (JIF): 8.7850

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
AUTOMATION & CONTROL SYSTEMSSCIE1/59Q1T1D1
COMPUTER SCIENCE, INTERDISCIPLINARY APPLICATIONSSCIE1/102Q1T1D1
ENGINEERING, INDUSTRIALSCIE1/43Q1T1D1

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 2,510

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS3/73Q1T1D196,58
COMPUTER SCIENCE, INTERDISCIPLINARY APPLICATIONS3/136Q1T1D198,16
ENGINEERING, INDUSTRIAL1/57Q1T1D199,12

Año:

2013

CiteScore:

9,100

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Computer Science Applications14/486Q1T1D1
Control and Systems Engineering4/201Q1T1D1
Electrical and Electronic Engineering19/631Q1T1D1
Information Systems8/221Q1T1D1

SJR año:

2013

Factor de Impacto:

1,975

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Computer Science Applications26/554Q1T1D1
Control and Systems Engineering9/225Q1T1D1
Electrical and Electronic Engineering29/656Q1T1D1
Information Systems14/254Q1T1D1
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# Autor Afiliación
1Grosso, Michelangelo Politecnico di Torino (Italy)
2Guzman-Miranda, HipólitoUniversidad de Sevilla (Spain)
3Aguirre, Miguel A.Universidad de Sevilla (Spain)