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Milestone report of the manufacturing and instrumentation coordinating committee: From MEMS to enterprise systems

Ollero, A.; Morel, G.; Bernus, P.; Nof, S. Y.; Sasiadek, J.; Boverie, S.; Erbe, H.; Goodall, R.

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2002
Volumen: 35
Número: 1
Páginas: 179 - 189
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus021-12-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric
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# Autor Afiliación
1Ollero, A.Universidad de Sevilla (Spain)
2Morel, G.Université de Lorraine (France)
3Bernus, P.Griffith University (Australia)
4Nof, S. Y.School of Industrial Engineering (United States)
5Sasiadek, J.Carleton University (Canada)
6Boverie, S.Siemens Automotive (France)
7Erbe, H.Technical University of Berlin (Germany)
8Goodall, R.Loughborough University (United Kingdom)